接触角度测量仪器
surftens百升-测试在半导体技术的专业薄酥饼交会角米surftenshl设计用于在半导体产业和研究，特别是程序控制的薄酥饼涂层和照相平版印刷的过程。它描绘的是为以下特点：交会角的快速和容易的测量，节省空间建筑快速映射的特别桌建筑在薄酥饼的交会角发行与直觉的操作的软件测量的结果的舒适的文献在协议和在视频图象，如果必须自由表面能的计算由吴/工作的理论的与膝上型计算机或个人计算机的任意用途surftens百升-应用硅片弄湿的行为的修改是标准处理步在半导体技术。对处理描述特性，技术参量和产量控制的调整。在修改过程前后，因此是绝对必要的，客观地和准确地测量交会角和表面自由能量。为此一种健壮和易使用的交会角测量仪器是需要的。surftenshl在半导体技术被开发适应需要，并且研究操作是简单和为大家可能在短的训练以后。人工操作保证一个有吸引力价格。因而surftenshl使用以及在标准程序控制以及在研究与开发。
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