X射线探伤仪

产品编号 : 40 ± 5° | AXFQ series

品牌 :

主要参数

  • 所用技术: X 射线
  • 可移动性: 手提
  • 应用: 用于 CND
axfq系列是angstrom开发的x-射线缺点探测器advanced。它被修造为非破坏性的测试主要使用了。单位提供优秀和清楚的图象。它也是稀薄的铁板材、铝材料、橡胶和其他相关材料的理想。另外,系统有40±5°。

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