相控阵探伤仪

产品编号 :

品牌 :

主要参数

  • 所用技术: 相控阵
  • 应用: 用于 CND
相控阵测试为腐蚀检查市场提供新的技术解答。这些奥林匹斯山解答使审查员是更加有生产力的,并且收集与充分地输入的高度决心的数据c扫描想象。hydroform™、rexoform™和新的双重线性array™(dla)探针被设计提供壁厚度损失的侦查的高效率的检查选择由于腐蚀、磨蚀和侵蚀。我们的解答也查出中间墙壁损伤例如氢导致的起水泡或制造业导致的分片和容易地区分从壁厚度损失的这些反常现象。

询问单

如果您有任何关于的询问,请填写表单,我们会尽快联系您。

0 回到顶部